Полное описание

в настоящей статье раскрывается, как различные аспекты патентной аналитики могут применяться на разных стадиях НИОКР. Отмечается, что патентная аналитика хорошо решает задачи выявления и снижения рисков, сопровождающих процесс исследования. Не ограничиваясь этим, авторы статьи обращают внимание на то, что снижение рисков и неопределенности вокруг научно-исследовательского проекта является одним из ключевых аспектов успешного завершения исследований.