ru
en
ISSN 2782-5086 (Print)
ISSN 2949-2432 (Online)
+7 (499) 240-3214
+7 (499) 240-3214
+7 (499) 243-7391 (21-40)
Заказать звонок
E-mail
vestnik_fips@rupto.ru
Адрес
Berezhkovskaya emb., 30, bldg. 1, Moscow, G-59, GSP-3, 125993, Russian Federation
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
ВЕСТНИК ФИПС
Научный журнал
По всему сайту
По каталогу
Главная
О журнале
Общая информация
Главный редактор и редколлегия
Нормативные документы
Редакционная политика
Выпуски журнала
Авторам
Требования к материалам
Сопроводительное письмо
Образец оформления статьи
Отправить статью
Оферта
Рецензирование
Публикационная этика
Контакты
ВЕСТНИК ФИПС
Научный журнал
Главная
О журнале
Общая информация
Главный редактор и редколлегия
Нормативные документы
Редакционная политика
Выпуски журнала
Авторам
Требования к материалам
Сопроводительное письмо
Образец оформления статьи
Отправить статью
Оферта
Рецензирование
Публикационная этика
Контакты
По всему сайту
По каталогу
Телефоны
+7 (499) 240-3214
+7 (499) 243-7391 (21-40)
Главная
Выпуски журнала
2024 год
Т. 3 № 1 (7)
Выпуски журнала
Т. 3 № 1 (7)
Скачать выпуск
Рецензии на научное издание. руководитель аналитического направления инфраструктурного центра "энерджинет" И.С. Чаусов
Скачать:
PDF
Рецензии на научное издание. заместитель генерального директора - генеральный конструктор АО "ОДК", Д-Р техн. наук, профессор Ю.Н. Шмотин
Скачать:
PDF
Патентный ландшафт "получение водорода и сопутствующая утилизация СО/СО2"
Скачать:
PDF
Перспективы применения патентной аналитики при решении задач по оценке технологий
Скачать:
PDF
Исследование патентных портфелей подведомственных организаций МИНЗДРАВА России
Скачать:
PDF
Комплексные поисковые стратегии при разработке отраслевых патентных ландшафтов
Скачать:
PDF
Подходы к снижению технической неопределенности исследований и разработок с использованием патентной аналитики
Скачать:
PDF
Интеграция патентной и непатентной информации при анализе стратегий коммерциализации технологий компаний на примере области малой энергетики
Скачать:
PDF
Радары для многопараметрической оценки технологий. Сценарии патентной аналитики
Скачать:
PDF
Колонка главного редактора
Скачать:
PDF