Выпуски журнала
Радары для многопараметрической оценки технологий. Сценарии патентной аналитики
- Автор
- ЕНА О.В.
- Язык
- русский
- Том
- 3
- Номер
- 1 (7)
- Год
- 2024
- Страницы
- 12-29
Полное описание
Цель исследования - методическая и алгоритмическая проработка новых инструментов сопоставления разных групп технологий с повышенными требованиями к объективности и многообразию аспектов сопоставления. Главная задача и результат исследования - новый подход к разработке технологических радаров, основанных на патентных данных. Впервые в мировую практику сопоставления технологий введены новые показатели, основанные на патентной аналитике (захват патентами новых рынков, широта распространения искусственного интеллекта и другие показатели). Принципы проектирования технологических радаров и сценарии их применения могут использоваться для широкого спектра задач управления наукой, технологиями и инновациями: формирование программ развития, модернизация производства, отбор перспективных проектов и др.