ru
en
ISSN 2782-5086 (Print)
ISSN 2949-2432 (Online)
+7 (499) 240-3214
+7 (499) 240-3214
+7 (499) 243-7391 (21-40)
Request a call
Email
vestnik_FIPS@rupto.ru
The address
Berezhkovskaya emb., 30, bldg. 1, Moscow, G-59, GSP-3, 125993, Russian Federation
Working hours
Mon - Fri : from 9:00 to 18:00
Vestnik FIPS
Scientific journal
All over site
In catalog
Home
About
General information
Editor-in-Chief and Editorial Board
Regulatory documents
Editorial policy
Releases
Authors
Requirements for materials
Cover letter
Sample design of the article
Submit an article
Reviewing
Publication ethics
Contacts
Vestnik FIPS
Scientific journal
Home
About
General information
Editor-in-Chief and Editorial Board
Regulatory documents
Editorial policy
Releases
Authors
Requirements for materials
Cover letter
Sample design of the article
Submit an article
Reviewing
Publication ethics
Contacts
All over site
In catalog
Telephones
+7 (499) 240-3214
+7 (499) 243-7391 (21-40)
Home
Issues of the magazine
2024 год
Т. 3 № 1 (7)
Issues of the magazine
Т. 3 № 1 (7)
Download the issue
Рецензии на научное издание. руководитель аналитического направления инфраструктурного центра "энерджинет" И.С. Чаусов
Скачать:
PDF
Рецензии на научное издание. заместитель генерального директора - генеральный конструктор АО "ОДК", Д-Р техн. наук, профессор Ю.Н. Шмотин
Скачать:
PDF
Патентный ландшафт "получение водорода и сопутствующая утилизация co/co2"
Скачать:
PDF
Перспективы применения патентной аналитики при решении задач по оценке технологий
Скачать:
PDF
Исследование патентных портфелей подведомственных организаций МИНЗДРАВА России
Скачать:
PDF
Комплексные поисковые стратегии при разработке отраслевых патентных ландшафтов
Скачать:
PDF
Подходы к снижению технической неопределенности исследований и разработок с использованием патентной аналитики
Скачать:
PDF
Интеграция патентной и непатентной информации при анализе стратегий коммерциализации технологий компаний на примере области малой энергетики
Скачать:
PDF
Радары для многопараметрической оценки технологий. сценарии патентной аналитики
Скачать:
PDF
Колонка главного редактора
Скачать:
PDF